L200N/L300ND晶圆显微镜 正置工业显微镜(半导体精密检测型)

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2026-08-05

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产品详情

L200N/L300ND晶圆显微镜

正置工业显微镜(半导体精密检测型)

半导体专用晶圆检测显微镜,搭载大行程电动载物台,高精度成像系统,可精准捕捉微观缺陷

适用于IC芯片、显示屏面板、半导体晶圆的微观缺陷检测,适配半导体制造高精度制程质检场景

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